二次元測(cè)量?jī)x又叫二次元量測(cè)儀，或者叫影像測(cè)量?jī)x和視頻測(cè)量機(jī)，是用來(lái)測(cè)量產(chǎn)品及模具的尺寸的，測(cè)量要素包括位置度、同心度、直線度、輪廓度、圓度和與基準(zhǔn)有關(guān)的尺寸等。下面小編分享全自動(dòng)二次元測(cè)量?jī)x測(cè)量工件高度的方法與測(cè)量誤差的內(nèi)容，歡迎閱讀！

全自動(dòng)二次元測(cè)量?jī)x測(cè)量工件高度的方法：

　　1、接觸法測(cè)高：在Z軸上安裝探針，用接觸法直接測(cè)量工件的高度結(jié)果，但是這個(gè)方法需要在二次元影像儀軟件上增加相應(yīng)的模塊。

　　2、影像測(cè)高法：在二次元測(cè)量?jī)x軟件上增加測(cè)高模塊，運(yùn)用焦距調(diào)節(jié)清楚一個(gè)平面，然后再找另一個(gè)平面，2個(gè)平面的差值就是要檢測(cè)的高度，系統(tǒng)誤差能控制到5個(gè)微米以內(nèi)。

全自動(dòng)二次元測(cè)量?jī)x的測(cè)量誤差：

　　1、原理誤差：

　　屬于影像測(cè)量?jī)x的原理誤差的是：CCD攝像頭畸變產(chǎn)生的誤差、測(cè)量方法不同而產(chǎn)生的誤差。攝像機(jī)的制造和工藝等原因，入射光線在通過(guò)各個(gè)透鏡時(shí)的折射誤差和CD點(diǎn)陣位置誤差等，光學(xué)系統(tǒng)存在著非線性的幾何失真，使得目標(biāo)像點(diǎn)與理論像點(diǎn)之間存在多種類型的幾何畸變：

　　徑向畸變、偏心畸變、薄棱鏡畸變等，并且徑向畸變較大，切向畸變和薄棱鏡畸變較小，且圖像中心區(qū)域畸變很小，邊緣畸變大。使用高質(zhì)量鏡頭可以減少畸變誤差的影響，但在精密測(cè)量中需要考慮到畸變的影響 對(duì)測(cè)量結(jié)果進(jìn)行修正。

　　測(cè)量方法不同而產(chǎn)生的誤差主要指不同圖像處理技術(shù)帶來(lái)的識(shí)別、量化誤差。圖像的邊緣是圖像的基本特征，是物體的輪廓或物體不同表面之間的交界在圖像中的反映。邊緣輪廓是人類識(shí)別物體形狀的重要因素，也是圖像處理中重要的處理對(duì)象。

　　在圖像處理的過(guò)程中需要進(jìn)行邊緣提取，而數(shù)字圖像處理技術(shù)中邊緣提取有很多不同的方法，選用不同的提取方法會(huì)對(duì)同一個(gè)被測(cè)件的邊緣位置產(chǎn)生不小的變化，因此會(huì)對(duì)然后的測(cè)量結(jié)果產(chǎn)生影響，如測(cè)量某一圓形工件的半徑和圓心的時(shí)候，當(dāng)圓的輪廓發(fā)生變化時(shí)，它的半徑值和圓心位置就會(huì)相應(yīng)的發(fā)生變化。由此可知，在圖像處理的過(guò)程中圖像處理算法對(duì)儀器的測(cè)量精度有著十分重要的影響，是影像測(cè)量所關(guān)注的焦點(diǎn)問(wèn)題。

　　2、制造誤差：

　　屬于影像測(cè)量?jī)x的制造誤差的是：導(dǎo)向機(jī)構(gòu)產(chǎn)生的誤差、安裝誤差等。導(dǎo)向機(jī)構(gòu)產(chǎn)生的誤差對(duì)影像測(cè)量?jī)x來(lái)說(shuō)主要是機(jī)構(gòu)誤差中的直線運(yùn)動(dòng)定位誤差。影像測(cè)量?jī)x是正交坐標(biāo)系測(cè)量?jī)x器。正交坐標(biāo)系測(cè)量?jī)x有3根相互垂直的軸線即X、Y、Z三軸，有3個(gè)運(yùn)動(dòng)部件沿這三根軸線運(yùn)動(dòng)，使CCD相對(duì)于被測(cè)工件作三維直線運(yùn)動(dòng)。

　　選用高質(zhì)量的運(yùn)動(dòng)導(dǎo)向機(jī)構(gòu)可以減少此類誤差的影響。如果影像測(cè)量?jī)x的測(cè)量平臺(tái)水平性能以及CCD攝像機(jī)的安裝十分出色，它們之間的夾角都在范圍以內(nèi)，此誤差非常小。

　　3、運(yùn)行誤差：

　　屬于影像測(cè)量?jī)x運(yùn)行誤差的是：測(cè)量環(huán)境和條件變化引起的誤差（如溫度變化、電壓波動(dòng)、照明條件變化、機(jī)構(gòu)磨損等），以及動(dòng)態(tài)誤差。由于溫度的改變，使得影像測(cè)量?jī)x的零部件尺寸、形狀、相互位置關(guān)系以及一些重要的特性參數(shù)發(fā)生變化，從而影響這臺(tái)儀器的精度。

　　溫度的變化還可能引起電器參數(shù)的改變以及儀器特性的改變，引起溫度靈敏度漂移和溫度零點(diǎn)漂移。電壓及照明條件的變化會(huì)影響到影像測(cè)量?jī)x的上，下光源燈的亮度，造成系統(tǒng)光照不均從而使得在采集圖像邊緣留下陰影造成的圖像邊緣提取誤差。磨損使影像測(cè)量?jī)x的零件產(chǎn)生尺寸、形狀、位置誤差，配合間隙增加，降低此儀器的工作精度的穩(wěn)定性。因此，測(cè)量運(yùn)行條件的改善可以有效地減少此類誤差的影響。

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